SJT 10143-1991 固体电介质微波复介电常数测试方法 重入腔法
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ID： |
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文件大小(MB)： |
0.13 |
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页数： |
8 |
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文件格式： |
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日期： |
2009-6-11 |
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SJ,中华人民共和国电子工业行业标准,SJ/T 10142一10143- 91,电介质微波复介电常数的测试方法,1991一04-02发布1991一07-01实施,中华人民共和国机械电子工业部发布,中华人民共和国电子工业行业标准,固体电介质微波复介电常数测试方法,蚕 人 腔 法 SI/T 10143-91,本标准规定了固体电介质徽波复介电常数的“重入腔”侧试方法,本方法适用于射频、徽波固体电介质复介电常数的测量,适用频率范围:f=(100-1000)MHz,测试范围:d <20,tan d. = 2 X 1 0- 4~ 2 X 10-,方法原理,重 人 式 腔是电容加载式同轴谐振腔的变形。图1所示是一个电容加载式同轴谐振腔，其,谐振频率决定于腔长和间除电容C,间隙距离改变时，间隙电容C变化，谐振频率变化;当间隙,距离不变，但其中介质改变时，间隙电容C也变化，谐振频率随之变化,间 晾 电 容 c,辐入,图 1 电 容 加 载 式 同 轴 谐 振 腔,设 间隙 中 充空气时，谐振腔的谐振频率为fo，当一个圆盘形介质片放入间隙中时，谐振腔,失谐，这时保持信号频率不变，调内导体，改变间隙距离可使谐振腔恢复谐振。内导体的位移量,与介质试样的介电常数。有关，:越大，放人样品后，间隙电容增加量越大，为了恢复谐振，内导,体的位移量就越大。根据样品厚度，放人介质前后内导体的位移量和谐振腔品质因数的变化就,可以算出介电常数,重入 式 腔 是把端面间隙电容C，移到内导体的中间一些，其结构示于图2。上内导体可调,下内导体靠近电容间隙处，附加一个微调电容C-,中华人民共和国机械电子工业部1991-04-02批准,一 1 2 一,1991-07-01实施,SJ/T 10143-91,信号输入,图 2 重 入 式 腔 结 构 示 意 图,当腔 中 无样品时，微调电容放在一定的初始值(M^-f定标时所放的”。位置)，调至测微器,使谐振腔谐振，这时主测微计读数为Mo,谐振指示为lo,调微调测微计使谐振腔失谐到输出指,示为半功率点，在。。两边得到的半功率位置二，和，n:对应一定的频率，则谐振腔品质因数Qo,值可知,放 入 样 品后，由于样品的el使间隙电容和腔体损耗都改变了。调节主测微计使对原信号,频率谐振，这时主测微器位置为M ，谐振输出指示为1;。由这些参数就可以算出扩和tand ,测 试 系 统框图如图3所示:,m 9x H PAA4E,cl〕H A 'T*An H }M xfta t"1 K AB&
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